ID 2214766

Доступно 4 шт.

Стереоскопический микроскоп Levenhuk LabZZ M4 – отличный выбор для изучения крупных объектов. Он передает объемное изображение и отличается большим рабочим расстоянием (75 мм). В микроскоп удобно наблюдать монеты, минералы, образцы пород, насекомых и растения. Благодаря небольшим размерам и весу Levenhuk LabZZ M4 прекрасно подойдет для юного ученого, интересующегося основами биологии.

Микроскоп Levenhuk LabZZ M4: удобство в использовании

В бинокулярную насадку можно смотреть обоими глазами одновременно. Это снижает нагрузку на зрение и позволяет вести длительные наблюдения с максимальным комфортом. Для освещения образцов есть верхняя светодиодная подсветка. Предметный столик снабжен металлическими зажимами для микропрепаратов. Объектив один и дает двукратное увеличение. Кратность микроскопа с комплектными аксессуарами составляет 40х. Широкое поле зрения оптики позволяет изучать протяженные объекты.

Для работы подсветки требуются две батарейки типа АА (в комплект не входят).

Основные особенности:

  • Детский стереомикроскоп для изучения объемных объектов
  • Комфортные наблюдения обоими глазами
  • Широкоугольные окуляры и большое поле зрения
  • Регулировка межзрачкового расстояния
  • Увеличение до 40 крат

Комплект поставки:

  • Микроскоп
  • Окуляры WF20x – 2 шт.
  • Чехол
  • Инструкция по эксплуатации и гарантийный талон


Технические характеристики
Тип микроскопастереоскопические/инструментальные
Тип насадкибинокулярные
Материал оптикиоптическое стекло
Угол наклона окулярной насадкибез наклона
Увеличение, крат40
Диаметр окулярной трубки, мм23,2
ОкулярыWF20x – 2 шт.
Объективы
Рабочее расстояние, мм75
Межзрачковое расстояние, мм50–75
Предметный столик, ммØ50, с препаратодержателями
Фокусировкагрубая
диапазон регулировки: 35 мм
Корпуспластик
Подсветкасветодиодная
Источник питаниябатарейки типа АА – 2 шт. (нет в комплекте)
Питание от батареекда
Диапазон рабочих температур, °С-5... 40
Уровень пользователядля начинающих, для детей
Назначениедля прикладных работ, детские
Расположение подсветкиверхняя
Метод исследованиясветлое поле